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連接器測(cè)試項(xiàng)目有哪些？下面例舉了電連接器EIA-364系列標(biāo)準(zhǔn)，NTEK北測(cè)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可提供電連接器測(cè)試全項(xiàng)檢測(cè)服務(wù)。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，EIA-364+涉及到電工器件、電氣工程綜合、電子元器件綜合、電子電信設(shè)備用機(jī)電元件、環(huán)境試驗(yàn)、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、航空航天制造用緊固件、航空航天制造用材料、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、機(jī)械試驗(yàn)、航空航天用電氣設(shè)備和系統(tǒng)、航天系統(tǒng)和操作裝置、熱力學(xué)和溫度測(cè)量、表面處理和鍍涂。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，EIA-364+涉及到連接器、低壓配電電器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電工絕緣材料及其制品、低壓電器綜合、電纜及其附件、安裝、接線連接件、程序語(yǔ)言、電子元件綜合、材料防護(hù)、液壓與氣動(dòng)裝置、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于EIA-364+的標(biāo)準(zhǔn)

ECA

EIA-364-G-2021

ECA

EIA-364-10J-2021

ANSI/EIA-364-49-2013 電連接器和插座的紫外線輻射試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-61-2013 電連接器和插座用耐焊接熱試驗(yàn)規(guī)程的返工

ANSI/EIA-364-43C-2013 電連接器用電纜夾件(彎曲瞬間)試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-63-2013 圓形電連接器配線強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-50B-2012 電連接器用灰塵(細(xì)砂)試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-46C-2012 電氣連接器,觸點(diǎn)和插座用微秒間斷性試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-42C-2012 電連接器用沖擊測(cè)試規(guī)程

ANSI/EIA-364-02D-2012 電連接器用漏氣測(cè)試規(guī)程

ANSI/EIA-364-35C-2012 電連接器插入保持測(cè)試規(guī)程

ANSI/EIA-364-34-2012 電連接器和插座周?chē)淠囼?yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-45C-2012 電連接器防火墻焰火試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-100A-2012 電氣連接器和插座標(biāo)記永久性的試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-57-2011 圓形卡口電連接器的牽引銷(xiāo)強(qiáng)度測(cè)試規(guī)程

ANSI/EIA-364-27C-2011 電氣連接器和插座的機(jī)械沖擊(規(guī)定脈沖)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-1005-2011 確定摩擦腐蝕接觸面敏感性的環(huán)境試驗(yàn)方法

ANSI/EIA-364-13E-2011 電氣連接器和套筒的配合和分離應(yīng)力試驗(yàn)步驟

ANSI/EIA-364-28F-2011 電氣連接器和套筒的振動(dòng)試驗(yàn)步驟

ANSI/EIA-364-32F-2011 電氣連接器和插座的熱沖擊(溫度循環(huán))試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-17C-2011 電連接器和插座的有/無(wú)電力負(fù)荷測(cè)試規(guī)程的溫度壽命

ANSI/EIA-364-56E-2011 電氣連接器和插座的耐焊熱測(cè)試規(guī)程

ANSI/EIA-364-78B-2010 電連接器用凹槽與凹槽處漏電結(jié)合完整性測(cè)試

ANSI/EIA-364-113-2010 電連接器和插座用接觸測(cè)試程序的腐蝕性

ANSI/EIA-364-41E-2010 電器連接器用電纜撓曲試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-112-2010 電氣連接器或插座中并聯(lián)電路的接觸電阻和電流額定值的測(cè)定用試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-114-2010 電連接器,插座和適用配件連接和斷開(kāi)力量測(cè)試規(guī)程

ANSI/EIA-364-25D-2010 電連接器的探針損傷試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-1004-2010 驗(yàn)證獨(dú)立電觸點(diǎn)和電氣連接器額定電流的TS-1004環(huán)境試驗(yàn)方法

ANSI/EIA-364-37C-2009 電連接器的接觸配合和分離力試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-1000-2009 受控環(huán)境設(shè)施用電氣連接器和插座的性能評(píng)估用環(huán)境試驗(yàn)方法論

ANSI/EIA-364-65B-2009 電氣連接器和插座用混合流動(dòng)氣體試驗(yàn)方法

ANSI/EIA-364-03C-2009 電氣連接器用高度浸漬試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-24B-2009 電連接器用維護(hù)老化試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-05B-2009 電連接器用接觸插入、釋放和移動(dòng)力的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-52B-2009 電器連接器和插座的連接端頭試驗(yàn)程序的可焊性

ANSI/EIA-364-08B-2009 電氣連接器用壓接彈性強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-98-2009 電連接器殼鎖緊機(jī)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-04A-2009 電氣連接器用標(biāo)稱力試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-85-2009 電連接器觸點(diǎn)涂層的磨損和機(jī)械損害評(píng)估用一般試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-88A-2009 電連接器殘余磁性的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-87A-2009 電連接器、觸點(diǎn)和插座用納秒事件檢測(cè)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-40B-2009 電氣連接器用壓垮試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-79-2009 電連接器插入粘結(jié)強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-93-2009 電氣連接器用絕緣置換觸點(diǎn)(IDC)的重復(fù)線接頭和斷開(kāi)試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-75A-2009 電氣連接器用閃電沖擊試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-1000.01B-2009 受控環(huán)境設(shè)施用電氣連接器和插座的性能評(píng)估用環(huán)境試驗(yàn)方法論

ANSI/EIA-364-94-2009 電連接器絕緣位移觸點(diǎn)(IDC)的橫向插拔力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-111-2008 電氣連接器或插座組件或部件的總離子污染物的測(cè)定用試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-105-A-2008 電連接器用高-低溫度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-20D-2008 電連接器.耐電壓試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-10E-2008 電連接器用液體浸入試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-71C-2008 電氣連接件和插座用焊料(波焊技術(shù))試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-1002-2008 作為自由固定觸點(diǎn)使用的或用于電氣連接器和插座的普通觸點(diǎn)終端性能評(píng)估用試驗(yàn)方法學(xué)

ANSI/EIA-364-E-2008 包括環(huán)境分類的電氣連接器/插座試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-55-A-2008 電氣連接裝置用電流循環(huán)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-38C-2008 電連接器用電纜拔出試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-31C-2008 電氣連接器用濕度試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-21D-2008 電氣連接器、插座和同軸觸點(diǎn)用耐絕緣試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-60A-2008 電連接器和插座用觸點(diǎn)拋光材料孔隙率測(cè)試的一般方法

ANSI/EIA-364-07C-2007 電連接器.壓接觸點(diǎn)變形試驗(yàn)程序

ANSI/EIA/ECA 364-18B-2007 電連接和插座用視覺(jué)和空間檢驗(yàn)試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-70B-2007 電連接器和插座的與電流相對(duì)應(yīng)的溫升試驗(yàn)程序

ANSI/EIA/CEA 364-28E-2006 電連接器和插座的振動(dòng)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA/ECA 364-15A-2006 電器連接件的接觸牢度試驗(yàn)方法

ANSI/EIA-364-36B-2006 電連接器用不透氣特性試驗(yàn)程序的測(cè)定

ANSI/EIA-364-23C-2006 電連接器和插座的低層接觸電阻試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-89A-2006 航天用電連接器和插座的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-06C-2006 電器連接器接觸牢度的試驗(yàn)方法

ANSI/EIA-364-29C-2006 電連接器.接觸保持力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA/CEA 364-59A-2006 電子連接器和插座的低溫試驗(yàn)程序

ANSI/EIA/ECA 364-110-2006 電子連接器的熱循環(huán)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-15A-2006 電連接器接觸強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-48A-2006 測(cè)量電器連接器件的金屬涂層厚度的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA/CEA 364-32D-2006 電連接器的熱沖擊(溫度周期)試驗(yàn)方法

ANSI/EIA-364-81A-2005 電連接器套,連接器組件和插座的燃燒特性試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-91A-2005 電連接器和插座的粉塵試驗(yàn)

ANSI/EIA-364-12A-2005 電連接器和插座的束口試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-11B-2005 電連接器和插座的耐溶劑性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-82A-2005 電連接器套,連接器組件和插座的塑料腐蝕性試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-62A-2004 電子連接器和插座的終端強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程TP-62A

ANSI/EIA-364-58A-2003 電連接器用帶有可拆卸觸點(diǎn)的連接器的機(jī)械荷載溫度壽命(在一定溫度下靜態(tài)機(jī)械荷載)

ANSI/EIA-364-109-2003 電連接器的回路電感測(cè)量試驗(yàn)規(guī)程(1 nH-10 nH)

ANSI/EIA 364-16A-2002 電連接器剝離力（無(wú)焊壓合連接）試驗(yàn)方法

ANSI/EIA 364-30A-2002 電連接器和插孔的電容量試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-69A-2002 電連接器電觸點(diǎn)微值電感測(cè)量

ANSI/EIA 364-33A-2002 電連接器的TP-33電感試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-78A-2002 新試驗(yàn)程序*78.電連接器的腔間泄漏接合完整性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-51A-2002 電連接器抗冰凍試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-69A-2002 電氣連接器(10 nH-100 mH)用電感測(cè)量試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-30A-2002 電連接器和插座的電容試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-96-2002 電連接器電鍍通孔完整性的試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-33A-2002 電氣連接器(100 nH-100 mH)用電感測(cè)量試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA-364-16A-2002 電連接器的脫出力(非焊繞接)的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-04A-2001 TP-40，電連接器正交力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-68A-2001 電連接器傳動(dòng)機(jī)構(gòu)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-19A-2001 電連接器扭轉(zhuǎn)插入保持力測(cè)試程序

ANSI/EIA 364-47A-2001 電連接器的無(wú)焊纏繞連接的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-47A-2001 非焊接纏繞的電連接器用導(dǎo)體非纏繞試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-19A-2001 電連接器的扭轉(zhuǎn)插入保持力的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-68A-2001 電連接器操作機(jī)構(gòu)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-31B-2000 電連接器.濕度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-90-2000 電連接器、插座、電纜組件或互聯(lián)系統(tǒng)用串?dāng)_比試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-104A-2000 電連接器易燃性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-107-2000 電連接器，插孔，電纜組件或互連裝置的目測(cè)圖和跳動(dòng)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-43B-2000 電連接器的電纜夾緊(彎矩)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-22B-2000 電連接器和插孔的壽命試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-101-2000 電連接器、插座、電纜附件或互連系統(tǒng)衰減試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-01B-2000 電連接器和插座用加速度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-45A-2000 防火壁電連接器的TP45火焰試驗(yàn)程序（EIA IS 50A的推薦升級(jí)）

ANSI/EIA 364-108-2000 電連接器、電纜組件或內(nèi)連系統(tǒng)在適當(dāng)?shù)臅r(shí)候和Frequency Domain 測(cè)量的阻抗、反射系數(shù)、回波損失和電壓柱波比（ VSWR ）試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-90-2000 電連接器的串音防衛(wèi)度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-106-2000 電連接器及插孔的駐波比試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-22B-2000 電連接器的模擬壽命試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-66A-2000 電連接器的EMI屏蔽效果試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-66A-2000 電連接器電磁干擾屏蔽效率試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-108-2000 電連接器、電纜附件或互連系統(tǒng)在時(shí)間和頻率域中測(cè)量的阻抗、反射系數(shù)、回程損耗和VSWR試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-101-2000 電連接器、插孔和電纜組件或內(nèi)連接系統(tǒng)的衰減試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-10A-2000 電連接器的液體浸入試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-53B-2000 電連接器.TP53硝酸蒸汽試驗(yàn).鍍金層

ANSI/EIA 364-06B-2000 電連接器.接觸電阻試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-107-2000 電連接器、插座、電纜組件或互連系統(tǒng)的眼孔圖樣和不穩(wěn)定性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-01B-2000 電連接器和插孔的加速試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-106-2000 電連接器和插座的駐波比(SWR)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-17B-1999 電連接器.有或無(wú)電氣負(fù)載的溫度壽命試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-95-1999 電連接器整體配接和配接穩(wěn)定性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-99-1999 電連接器量規(guī)位置和保持力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-03B-1999 電連接器.高處浸沒(méi)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-38B-1999 電連接器.電纜拔出試驗(yàn)

ANSI/EIA-364-14B-1999 電連接器.臭氧暴露試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-17B-1999 電連接器.電連接器有電負(fù)載或無(wú)電負(fù)載時(shí)溫度壽命的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-41C-1999 電連接器的TP-41型電纜撓曲試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-83-1999 電連接器的外殼間以及外殼與隔板間阻力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-09C-1999 電連接器的耐久性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-14B-1999 電連接器.臭氧暴露試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-95-1999 電連接器的全連接和連接穩(wěn)定性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-99-1999 電連接器的測(cè)試儀布置和保持力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-02C-1999 電氣連接器.空氣滲漏試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-20B-1999 電連接器.耐壓試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-09C-1999 電連接器的耐久性的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-100-1999 電連接器的標(biāo)志永久性試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-54A-1999 電連接器和電觸點(diǎn).磁導(dǎo)率試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-83-1999 電連接器外殼與外殼和外殼與隔壁電阻的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-39B-1999 電連接器.靜水壓試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-26B-1999 電連接器.鹽霧腐蝕試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-39B-1999 電連接器.流體靜力學(xué)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-54A-1999 電連接器和電觸點(diǎn).導(dǎo)磁性試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-26B-1999 電連接器.鹽霧腐蝕測(cè)試程序

ANSI/EIA 364-79-1998 電氣連接件的插入連接強(qiáng)度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-25C-1998 電連接器.探針損傷試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-05B-1998 電連接器.觸點(diǎn)插入力、斷開(kāi)力和撥出力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-08B-1998 電連接器.卷縮抗拉強(qiáng)度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-24B-1998 電連接器.維護(hù)老化試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-40B-1998 電連接器.抗壓碎試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-37B-1998 電連接器.觸點(diǎn)插撥力的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-44-1998 電連接器.電暈試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-13B-1998 電連接器.嚙合和非嚙合力的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-70A-1998 電流對(duì)電連接器溫度升高影響的試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-50A-1998 電氣連接件.砂塵試驗(yàn)過(guò)程

ANSI/EIA-364-102-1998 電連接器、插座、電纜附件或互連系統(tǒng)上升時(shí)間降低試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-07B-1998 電連接件.壓合接頭變形試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-103-1998 電連接器、插座、電纜附件或互連系統(tǒng)傳播延遲試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-102-1998 電連接器、插孔、電纜組件或互連裝置的上升時(shí)間衰減試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-44-1998 電連接器的電暈試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA 364-65A-1997 混合流動(dòng)氣體

ANSI/EIA-364-92-1997 電連接器絕緣位移觸點(diǎn)(IDC)的電線彎曲試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-98-1997 電連接件的外殼鎖緊機(jī)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-97-1997 電連接器用殼板保持力試驗(yàn)規(guī)程

ANSI/EIA 364-92-1997 電連接件的絕緣替代接頭（IDC）的引線撓曲度試驗(yàn)程序

ANSI/EIA-364-65A-1997 混合流動(dòng)氣體

ANSI/EIA 364-94-1997 電連接件的絕緣替代接頭（IDC）的TP-94橫向撥出力試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-75-1997 電連接件的雷擊試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-11A-1997 電連接件.耐溶劑性能.電連接件試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-97-1997 電連接件的TP-97外殼面板保持力試驗(yàn)過(guò)程

ANSI/EIA 364-93-1997 電連接件的絕緣替代接頭（IDC）的返復(fù)線連接和斷開(kāi)試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-87-1996 電氣連接件,接觸件和插座的毫微秒事件檢測(cè)

ANSI/EIA 364-91-1996 電子連接器和插孔的灰塵試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-85-1996 TP-85,電子連接器接觸末端機(jī)械磨損試驗(yàn)和磨損評(píng)價(jià)的常規(guī)測(cè)試程序

ANSI/EIA 364-27B-1996 電連接器.機(jī)械沖擊(規(guī)定的脈沖)測(cè)試程序

ANSI/EIA 364-88-1995 電子連接器的殘余磁力

ANSI/EIA 364-41A-1984 電連接器.圓形護(hù)套電纜彎曲試驗(yàn)程序

關(guān)于EIA-364+的標(biāo)準(zhǔn)

EIA-364-1000B-2019

EIA-364-31F-2019

EIA-364-119-2019

EIA-364-78C-2018

EIA-364-117-2017

EIA-364-57A-2017

EIA-364-31E-2017

EIA-364-25E-2017

EIA/ECA-364-91B-2016

EIA-364-15C-2016

EIA-364-118-2016

EIA-364-115-2016

EIA-364-1004A-2016

EIA-364-1000A-2016

EIA-364-108 ERTA-2016

EIA-364-84-2015

EIA-364-111A-2015

EIA-364-03D-2015

EIA-364-04B-2015

EIA-364-116-2015

EIA-364-08C-2015

EIA-364-15B-2015

EIA-364-20E-2015

EIA-364-105B-2015

EIA-364-10F-2014

EIA-364-64-2014

EIA-364-F-2014

EIA-364-31D-2014

EIA-364-11C-2014

EIA-364-61A-2014

EIA-364-86A-2014

EIA-364-49-2013

EIA-364-43C-2013

EIA-364-61-2013

EIA-364-90-2013

EIA-364-45C-2012

EIA-364-46C-2012

EIA/ECA-364-50B-2012

EIA-364-100A-2012

EIA-364-34-2012

EIA-364-35C-2012

EIA-364-42C-2012

EIA-364-02D-2012

EIA-364-56E-2011

EIA-364-17C-2011

EIA-364-57-2011

EIA-364-1005-2011

EIA-364-45B-2011

EIA-364-32F-2011

EIA-364-13E-2011

EIA-364-27C-2011

EIA-364-28F-2011

EIA-364-78B-2010

EIA-364-25D-2010

EIA-364-114-2010

EIA-364-1004-2010

EIA-364-113-2010

EIA-364-41E-2010

EIA-364-112-2010

EIA-364-65B-2009

EIA-364-88A-2009

EIA-364-37C-2009

EIA-364-87A-2009

EIA-364-52B-2009

EIA-364-03C-2009

EIA-364-1000.01B-2009

EIA-364-75A-2009

EIA-364-111-2008

EIA-364-31C-2008

EIA-364-1002-2008

EIA-364-1000-2008

EIA-364-55-A-2008

EIA-364-71C-2008

EIA-364-38C-2008

EIA-364-32E-2008

EIA-364-41D-2008

EIA-364-55A-2008

EIA-364-E-2008

EIA/ECA-364-21D-2008

EIA-364-20D-2008

EIA/ECA-364-56D-2008

EIA/ECA-364-105A-2008

EIA/ECA-364-10E-2008

EIA/ECA-364-60A-2008

EIA-364-60A-2008

EIA/ECA-364-13D-2007

EIA-364-07C-2007

EIA/ECA-364-70B-2007

EIA/ECA-364-32D-2006

EIA/ECA-364-36B-2006

EIA-364-36B-2006

EIA/ECA-364-29C-2006

EIA-364-29C-2006

EIA/ECA-364-28E-2006

EIA-364-59A-2006

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EIA-364-23C-2006

EIA/ECA-364-23C-2006

EIA/ECA-364-13C-2006

EIA/ECA-364-1000.01A-2006

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EIA/ECA-364-10D-2006

EIA-364-15A-2006

EIA/ECA-364-06C-2006

EIA/ECA-364-15A-2006

EIA/ECA-364-48A-2006

EIA/ECA-364-89A-2006

EIA-364-12A-2005

EIA-364-11B-2005

EIA/ECA-364-11B-2005

EIA/ECA-364-12A-2005

EIA/ECA-364-56B-2005

EIA-364-82A-2005

EIA-364-81A-2005

EIA-364-62A-2004

EIA-364-20C-2004

EIA-364-10C-2004

EIA-364-58A-2003

EIA-364-109-2003

EIA-364-52A-2003

EIA-364-10B-2002

EIA-364-96-2002

EIA-364-51A-2002

EIA-364-80-2002

EIA-364-33A-2002

EIA-364-30A-2002

EIA-364-16A-2002

EIA-364-69A-2002

EIA-364-04A-2002

EIA-364-78A-2002

EIA-364-D-2001

EIA-364-68A-2001

EIA-364-47A-2001

EIA-364-19A-2001

EIA-364-71B-2001

EIA-364-1000.01-2001

EIA-364-23B-2000

EIA-364-104A-2000

EIA-364-10A-2000

EIA/ECA-364-43B-2000

EIA-364-108-2000

EIA-364-43B-2000

EIA-364-06B-2000

EIA-364-21C-2000

EIA-364-53B-2000

EIA-364-101-2000

EIA-364-31B-2000

EIA/ECA-364-45A-2000

EIA/ECA-364-01B-2000

EIA/ECA-364-21C-2000

EIA-364-32C-2000

EIA-364-107-2000

EIA/ECA-364-53B-2000

EIA-364-45A-2000

EIA-364-106-2000

EIA-364-01B-2000

EIA-364-66A-2000

EIA-364-22B-2000

EIA-364-90-2000

EIA-364-83-1999

EIA-364-39B-1999

EIA-364-28D-1999

EIA-364-02C-1999

EIA-364-38B-1999

EIA/ECA-364-38B-1999

EIA-364-41C-1999

EIA-364-99-1999

EIA-364-17B-1999

EIA-364-03B-1999

EIA-364-54A-1999

EIA/ECA-364-54A-1999

EIA-364-09C-1999

EIA-364-71A-1999

EIA-364-105-1999

EIA-364-14B-1999

EIA-364-95-1999

EIA/ECA-364-26B-1999

EIA-364-100-1999

EIA/ECA-364-95-1999

EIA/ECA-364-42B-1999

EIA-364-20B-1999

EIA-364-26B-1999

EIA-364-42B-1999

EIA-364-103-1999

EIA-364-102-1998

EIA-364-13B-1998

EIA/ECA-364-35B-1998

EIA-364-35B-1998

EIA-364-79-1998

EIA/ECA-364-50A-1998

EIA-364-70A-1998

EIA-364-05B-1998

EIA-364-24B-1998

EIA-364-07B-1998

EIA-364-40B-1998

EIA-364-25C-1998

EIA-364-08B-1998

EIA-364-37B-1998

EIA-364-29B-1998

EIA-364-44A-1998

EIA-364-65A-1998

EIA-364-93-1997

EIA-364-94-1997

EIA-364-98-1997

EIA-364-97-1997

EIA/ECA-364-75-1997

EIA-364-25B-1997

EIA-364-92-1997

EIA-364-87-1997

EIA-364-27B-1996

EIA-364-85-1996

EIA-364-86-1996

EIA-364-88-1995

EIA-364-B-1-1994

EIA-364-70-1992

EIA-364-65-1992

EIA-364-09B-1991

EIA-364-10-1989

EIA-364-55-1985

EIA-364-01A-1984

EIA-364-18A-1984

美國(guó)電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì)，關(guān)于EIA-364+的標(biāo)準(zhǔn)

ECA EIA-364-20D-2008 電連接器、插座和同軸觸點(diǎn)用承壓試驗(yàn)程序EIA-364-20D(EIA-364-20C的修訂本)

ECA EIA-364-E-2008 包括環(huán)境分類的電連接器/插座試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-81A-2005 TP-81 電連接器外殼、連接器組件和插座的燃燒特性

ECA EIA-364-82A-2005 TP-82A 電連接器套、連接器組件和插座的塑料腐蝕性試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-62A-2004 TP-62A 電子連接器和插座的終端強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程

ECA EIA-364-58A-2003 TP-58 具有可移動(dòng)連接的連接器的機(jī)械負(fù)荷溫度壽命

ECA EIA-364-109-2003 TP-109 電連接器的電感(回路)測(cè)量試驗(yàn)程序(1 nH - 10 nH)

ECA EIA-364-16A-2002 TP-16A 電連接器剝離力測(cè)試(無(wú)需焊接包裹接頭)的測(cè)試程序

ECA EIA-364-30A-2002 TP-30A 電連接器和插座的電容試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-69A-2002 TP-69A 電連接器的電觸點(diǎn)的低水平感應(yīng)測(cè)量

ECA EIA-364-04A-2002 電連接器TP-40正交力試驗(yàn)方法

ECA EIA-364-51A-2002 TP-51 電連接器抗冰試驗(yàn)方法

ECA EIA-364-96-2002 TP-96 電連接器金屬化孔完整性的試驗(yàn)方法

ECA EIA-364-80-2002 TP-80 電連接器和插座的低頻防護(hù)效果試驗(yàn)方法

ECA EIA-364-68A-2001 TP-68A 電連接器傳動(dòng)機(jī)械試驗(yàn)程序 修改版EIA-364-38

ECA EIA-364-47A-2001 TP-47A 電連接器的無(wú)焊纏繞連接試驗(yàn)程序 修改版EIA-365-47

ECA EIA-364-19A-2001 TP-19A 電連接器扭轉(zhuǎn)插入保持力測(cè)試程序 修改版EIA-364-19

ECA EIA-364-104A-2000 TP-104A 電連接器易燃性試驗(yàn)規(guī)程

ECA EIA-364-108-2000 TP-108 電連接器、插座和電纜組件或內(nèi)連接系統(tǒng)的阻抗、反射系數(shù)、失配衰減和電壓柱波比試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-107-2000 TP-107 電連接器的目測(cè)圖和跳動(dòng)試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-106-2000 TP-106 電連接器的駐波比試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-101-2000 TP-101 電連接器、插座和電纜組件或內(nèi)連接系統(tǒng)的衰減試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-66A-2000 TP-66A 電連接器的EMI屏蔽效果試驗(yàn)規(guī)程

ECA EIA-364-01B-2000 TP-01B電連接器和插座的加速試驗(yàn)程序 EIA-364-01A修改版

ECA EIA-364-90-2000 TP-90 電連接器,插座,電纜組件或互連系統(tǒng)的串?dāng)_比測(cè)試程序

ECA EIA-364-83-1999 TP-83 電連接器外殼對(duì)外殼和外殼對(duì)體熱電阻試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-09C-1999 TP-09C 電連接器和接觸的耐久力測(cè)試程序

ECA EIA-364-99-1999 TP-99 電連接器的測(cè)試儀布置和固位試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-54A-1999 TP-54A電子連接器、接觸和插座導(dǎo)磁性試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-103-1999 TP-103 電連接器、插座、電纜附件或互連系統(tǒng)傳播延遲試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-08B-1998 TP-08B,電連接器的卷縮抗拉強(qiáng)度試驗(yàn)程序 取代 MIL-STD-1344,方法2003.1

ECA EIA-364-24B-1998 TP-24B 電連接器的維護(hù)老化試驗(yàn)程序 取代MIL-STD-1344,方法2002.1

ECA EIA-364-40B-1998 TP-40B 電連接器沖撞測(cè)試程序 取代MIL-STD-1344 方法2008.1

ECA EIA-364-05B-1998 TP-05B,電連接器觸點(diǎn)、斷開(kāi)和偏移力試驗(yàn)程序 取代MIL-STD-1344,方法2012.1

ECA EIA-364-102-1998 TP-102 電連接器的上升時(shí)間衰減試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-92-1997 電連接器用絕緣位移連接件(IDC)的TP-92電線彎曲試驗(yàn)程序

ECA EIA-364-86-1996 電連接器和插座用TP-86偏振/編碼鍵過(guò)應(yīng)力的測(cè)試程序

(美國(guó))電子工業(yè)聯(lián)合會(huì)，關(guān)于EIA-364+的標(biāo)準(zhǔn)

EIA-364-63-2013 EIA SP 5168-2007 電子連接器和插座用溫度急增(溫度循環(huán))試驗(yàn)規(guī)程.發(fā)布為ANSI/EIA/ECA-364-32E標(biāo)準(zhǔn)

EIA SP-5006-2002 (草案)電子連接器和插座的液體浸沒(méi)試驗(yàn).評(píng)議有效期至:2002年10月1日. ANSI/EIA-364-10B, TP-10B

EIA SP4981-2001 (草案)電子連接器和插座溫升及電流試驗(yàn)程序.評(píng)議有效期至:2001年11月28日.ANSI/EIA-364-70B, TP-70B

美國(guó)宇航局，關(guān)于EIA-364+的標(biāo)準(zhǔn)

NASA-STD-6001-1998 環(huán)境中支持燃燒的物質(zhì)的可燃性,氣味,脫氣和兼容性要求和測(cè)試程序(代替:ECA EIA/ECA-364-89A,ECA 364-89)(代替:N:NASA NHB 8060.1 REV C,NASA NHB 8060.1 REV B)